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有源近場探頭套件
產品型號： HZ530
所屬分類：電磁兼容EMI測試
產品時間：2024-05-07
簡要描述：HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成
詳細說明：
HAMEG 惠美 HZ530 有源近場探頭套件 Near-Field Probe Set
HZ 530 HZ-530
HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連。探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細長的外形，因此甚至在空間狹窄的測試環(huán)境中也可接觸到測試對象。
磁場探頭可提供一個與頻譜分析儀的磁場強度成正比的信號。這樣就可以很高的精度找到干擾源。
高阻抗探頭可用于確定觸點、線路和印刷電路板上的干擾電平。
電場探頭在這三種探頭中靈敏度zui高。它可用于評估被測設備中的總體屏蔽和濾波效果。
技術指標（23°C±2°C時）
| 頻率范圍： | 100kHz至1GHz |
| 電源電壓： | 6VDC，由頻譜分析儀或電池提供（4節(jié)Mignon/AA電池，不提供） |
| 電源電流： | 大約10-24mA DC |
| 探頭尺寸： | 40×90×195mm |
| 機箱： | 塑料，內部電屏蔽 |
| 套件包括： | 1個電場探頭 |
| 1個磁場探頭 | |
| 1個高阻抗探頭 | |
| 1條BNC電纜（1.5m） | |
| 1條電源電纜 | |
| 操作手冊 | |
| 堅固的攜帶箱 |
